- 產品型號：SN74BCT8240ADWR
- 制 造 商：TI（德州儀器）
- 出廠封裝：24-SOIC
- 功能類別：專用邏輯芯片
- 功能描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
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TI德州儀器公司完整型號：SN74BCT8240ADWR
制造廠家名稱：Texas Instruments
描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
系列：74BCT
邏輯類型：掃描測試設備，帶反相緩沖器
電源電壓：4.5 V ~ 5.5 V
位數：8
工作溫度：0°C ~ 70°C
安裝類型：表面貼裝
封裝/外殼：24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）
供應商器件封裝：24-SOIC
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